制造商:FEI
房间号:透镜实验室(试剂库对过)
仪器负责人:司书峰
主要技术指标:
总电子束流: |
》150 nA |
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探针束流: |
1 nA@1 nm(200KV) |
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电子能量: |
《136 eV |
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EDS(快速) |
像素驻留时间10 μs |
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TEM放大范围 |
25-1.5M |
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TEM分辨率 |
0.25 nm |
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STEM放大范围 |
150-230M |
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STEM HAADF分辨率 |
0.16 nm |
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EDX(Srad) |
0.45 |
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应用范围
能进行快速、准确且量化的多维纳米材料表征;融合了快速、多通道、高分辨率 STEM 成像和精确成分分析,可以支持各种动态显微镜应用。